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ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪，通过对入射和接收两臂的角度控制，实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用， 如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 测量方式有：反射光谱测量（上反射和下反射）、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成，我们仅需要选择测量方式、设置测量参数，调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式，即我们可以把入射臂和接收臂，运行到任意的角度位置进行光谱测量。
