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ProSp-STAGE-RT透反射测量支架,由底座、高精密滑轨、载物台、精密位移台和2个准直透镜组成。这个支架可以测量固体样品的透反射光谱,也可以测量固体、粉末样品的荧光光谱(配套荧光探头)。对于反射光谱,可以实现上反射和下反射测量。测量距离可以调节,以适应不同厚度的样品