ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用, 如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS 测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱测量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成,我们仅需要选择测量方式、设置测量参数,调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式,即我们可以把入射臂和接收臂,运行到任意的角度位置进行光谱测量。
产品介绍:
ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪,通过对入射和接收两臂的角度控制,实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用,如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS测量方式有:反射光谱测量(上反射和下反射)、透射光谱量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成,我们仅需要选择测量方式、设置测量参数,调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式,即我们可以把入射臂和接收臂,运行到任意的角度位置进行光谱测量。
功能描述:
1、全角度测量:接收端0-360度,发射端0-270度
2、高角度分辨率:分辨率达0.01°;
3、全光谱测量:光谱范围250-2500nm,搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪;
4、不同测量模式:可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式;
5、自动测量模式:通过软件设置(测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循环次数、积分时间等),实现不同模式的自动测量,中间不需人为干预;
6、手动测量模式:可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量;
7、灵活的光源选择:自带钨灯光源和外接光源;
8、可扩展:可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件;
应用领域
微纳光学
材料学
生物技术
矿物分析
纸币防伪
LED光源
液晶显示
材料镀膜等
不同角度的反射率谱线
测量模式
反射测量(上反射/下反射)模式 | 透射测量模式 |
散射/荧光测量模式 | 辐射测量模式 |
参数指标
参数/型号 |
ProSp-RTM-UV |
ProSp-RTM-VIS |
光谱范围 |
250-2500nm |
250-2500nm |
光源 |
选配,SMA905光纤接口 |
内置钨灯光源(360-2500nm)可外接其它光源 |
光斑大小 |
可调,最小1.5mm |
可调,最小1.5mm |
入射光发散角 |
<1.5° |
<1.5° |
入射角范围 |
0-270° |
0-350° |
接收角范围 |
0-360° |
0-360° |
角度分辨率 |
0.1° |
0.1° |
样品台 |
三维调节 |
三维调节 |
滤波片架 |
包含2个滤波片架,分别在于入射和接收光路上,可以放置直径12.7mm |
|
旋转偏振片架 |
选配 |
选配产品
光谱仪 |
|
USB2000+VIS-NIR-ES |
350-1000nm |
QEPRO-FL |
350-1000nm |
NIRQUEST512-2.5 |
900-2500nm |
光源 | |
DH-2000-BAL |
220-2500nm |
HL-2000-LL |
360-2500nm |
偏振片 | |
PLine-VIS-A |
400-700nm |
PLine-VIS-B |
600-1100nm |
PLine-VIS-NIR |
650-2000nm |
PLine-NIR-A |
1050-1700nm |
PLine-NIR-B |
1000-3000nm |
可定制显微光谱角分辨系统
相关产品