角分辨光谱测量的测试结果能力的分辨
　　
　　角分辨光谱测量仪是用于探测具备“角度依赖(angle-resolved)”特性物体的光学测量仪器。为了验证他的准确性，我们采用标准样品进行检验。

　　SiO2镀膜Si基底样品是一种具有典型“角度依赖”反射率特性的样品，可以作为一种常见的标准样品，常常用来检光谱型测椭偏仪的性能。因此，我们采用了单层膜结构的镀膜样品作为验证的标样。
　　
　　测试结果证明实用R1测试单层膜的P波和S波与理论计算结果吻合。
　　
　　单层膜样品的光谱反射率理论计算简单，实际测量中，测试系统要求具备宽谱段覆盖范围(紫外到近红外)；方便的偏振态控制；背反射(0度角)；高精度的角度控制等要求。以往情况，用户需要采用昂贵的光谱型椭偏仪实现，现在可以采用R1可以轻松的实现这些功能。
　　
　　角分辨光谱测量的典型应用领域：
　　
　　角分辨光谱测量的样品在不同偏振态具有不同光谱特性，需要光谱测量系统具有各偏振的分辨能力。
　　
　　薄膜光谱样品具有能带结构，呈现光谱的各向异性，需要光谱测试系统具有精确的角度区分能力。
　　
　　SPP/SPR表面等离子体具有敏感的光谱和角度依赖，需要光谱测试系统具有宽泛的光谱测量波段，和精确的角度分辨能力。
　　
　　高集成度
　　
　　可满足多模式、全角度、宽谱段的角分辨光谱测试需求，具有超高性价比
　　
　　良好的扩展性
　　
　　适配多波段偏振器件、滤光片等光学元件，可加载旋转调节支架，方便调节
　　
　　自由调节样品台
　　
　　五维精密调节样品台，能够对样品实现各种维度的精确调节