ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪，通过对入射和接收两臂的角度控制，实现材料任意角度的光谱测量。

产品介绍：

ProSp-RTM-UV/VIS全角度光谱测量系统，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪，通过对入射和接收两臂的角度控制，实现材料任意角度的光谱测量。它可以在很多领域发挥作用，如微纳结构材料和器件、薄膜材料、滤光片、表面等离子体耦合共振器件、发光材料和器件、指纹按键器件等。ProSp-RTM-UV/VIS测量方式有：反射光谱测量（上反射和下反射）、透射光谱量、辐射光谱测量和散射/荧光光谱测量。每种测量方式都由系统自动完成，我们仅需要选择测量方式、设置测量参数，调整样品位置即可。系统也支持手动测量方式，即我们可以把入射臂和接收臂，运行到任意的角度位置进行光谱测量。

功能描述：

1、全角度测量：接收端0-360度，发射端0-270度

2、高角度分辨率：分辨率达0.01°；

3、全光谱测量：光谱范围250-2500nm，搭配高性能的海洋光学光纤光谱仪；

4、不同测量模式：可以实现上反射、下反射、透射、散射、辐射等多种模式；

5、自动测量模式：通过软件设置（测量模式、接收角范围、入射角范围、角度分辨率、循环次数、积分时间等），实现不同模式的自动测量，中间不需人为干预；

6、手动测量模式：可以任意控制样品台的入射角、接收角进行光谱测量；

7、灵活的光源选择：自带钨灯光源和外接光源；

8、可扩展：可以在光路中增加滤波片、偏振片、波片等不改变光路的光学器件；

应用领域      

微纳光学

材料学

生物技术

矿物分析

防伪

LED光源

液晶显示

材料镀膜等

不同角度的反射率谱线

测量模式

反射测量（上反射/下反射）模式	透射测量模式
散射/荧光测量模式	辐射测量模式

参数指标

选配产品

可定制显微光谱角分辨系统