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透射与反射测量支架
产品简介:

ProSp-STAGE-RT透反射测量支架,由底座、高精密滑轨、载物台、精密位移台和2个准直透镜组成。这个支架可以测量固体样品的透反射光谱,也可以测量固体、粉末样品的荧光光谱(配套荧光探头)。对于反射光谱,可以实现上反射和下反射测量。测量距离可以调节,以适应不同厚度的样品

更新时间:2025-08-14

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产品介绍

ProSp-STAGE-RT透反射测量支架,由底座、高精密滑轨、载物台、精密位移台和2个准直透镜组成。这个支架可以测量固体样品的透反射光谱,也可以测量固体、粉末样品的荧光光谱(配套荧光探头)。对于反射光谱,可以实现上反射和下反射测量。测量距离可以调节,以适应不同厚度的样品



透射与反射测量支架









应用实例1-透过率测量

设备清单:

USB2000+光谱仪

SPL-HL钨灯光源

ProSp-STAGE-RT透反射测量支架

SPLF400-2-VIS光纤(2)











透射与反射测量支架









应用实例2-反射率测量

设备清单:

USB2000+光谱仪

SPL-HL钨灯光源

ProSp-STAGE-RT透反射测量支架

QR400-7-VIS-NIR反射探头

WS-1标准反射板












参数指标

规格ProSp-STAGE-RT
底座尺寸180mm直径
样品区域尺寸130mm直径
重量4KG
粗调范围0-100mm可调
精调范围0-40mm,10um精度
光谱范围200-2500nm
台体材料阳极氧化铝


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